Cena Jiřího Zelenky
Permanent URI for this collection
Browse
Browsing Cena Jiřího Zelenky by Issue Date
Now showing 1 - 15 of 15
Results Per Page
Sort Options
- ItemStudium piezoelektrických tenkých vrstev(Technická Univerzita v Liberci, 2009) Radoberský, Tomáš; Šulc, MiroslavPiezoelektrické tenké vrstvy jsou měřeny dvoupaprskovým laserovým interferometrem. Vrstvy jsou naneseny vysokofrekvenčním naprašováním. Naměřené frekvenční a předpěťové závislosti piezoelektrického a elektrostrikčního koeficientu jsou konzultovány.
- ItemAplikace pro měření metodou digitální holografické interferometrie(Technická Univerzita v Liberci, 2010) Psota, Pavel; Lédl, VítHolografická interferometrie již několik desítek let plní nenahraditelnou úlohu mezi měřicími technikami. Je to univerzální technika, kterou lze adaptovat na velmi širokou škálu různých měření, od deformací těles přes vibrace až po teplotní nebo tlaková rozložení v plynech. Technika se neustále vyvíjí a rozšiřují se i její možné aplikace. Nejprve byly hologramy zaznamenány analogově a následně vyhodnoceny experimentátorem. Později zaznamenané hologramy byly vyhodnoceny počítači a dnes již hologramy mohou být zaznamenány elektronicky pomocí CCD nebo CMOS senzorů a objektová vlna je rekonstruována sofistikovanými algoritmy. V digitální holografické interferometrii jsou vlnová pole porovnána a výsledky zobrazeny. Tento proces od začátku až dokonce je poměrně náročný a vyžaduje desítky různých matematických operací, některé probíhají zcela automaticky a jiné vyžadují zásah operátora. Pro tyto účely byla vytvořena aplikace v prostředí MATLAB GUI zastřešující všechny potřebné operace a navíc vybavená množstvím grafických prvků a nástrojů usnadňujících práci s daty. Vytvořená aplikace splňuje požadavky na ní kladené velmi dobře a výrazně usnadnila, zrychlila provádění celé metody holografické interferometrie.
- ItemAplikace pro numerické řešení matematických úlohKybl, Zdeněk; Černá Dana, RNDr. Ph.D.; Skolitel : 55316 Simová Jozefína, doc. Ing. Ph.D.; Konzultant : 56318 Kopetschke Igor, Ing.; Konzultant2 : 64446 Nováková Michaela, Bc.Diplomová práce si klade za cíl vytvoření rešerše vybraných numerických metod a zhotovení aplikace, jež slouží zejména jako didaktická pomůcka studentům při studiu problematiky numerické matematiky. Teoretická část je rozdělena do šesti kapitol, přičemž v každé kapitole jsou charakterizovány hlavní principy numerických metod jednoho odvětví numerické matematiky. Práce postupně seznamuje s algoritmy zabývajícími se aproximací a interpolací funkce, numerickou integrací a derivací, řešením nelineárních rovnic,metodami pro řešení soustav lineárních rovnic a s algoritmy sloužícími pro výpočet vlastních čísel a vlastních vektorů reálných symetrických matic. V praktické části je nejprve představena aplikace implementovaná v jazyce C# z pohledu jejího návrhu, kdy jsou blíže představeny všechny vrstvy aplikace. Později je ilustrována interakce jednotlivých vrstev aplikace a dění v pozadí aplikace při jejím užívání uživatelem. Pro zajištění dostatečné didaktické úrovně využívá aplikace nástrojů, pomocí nichž dochází k zobrazení nejen získaného řešení, ale i postupu, který vedl k jeho dosažení. V případě aproximace a interpolace funkce, řešení nelineárních rovnic a numerické integrace je didaktická úroveň umocněna grafickou interpretací úlohy a jejího řešení. Aplikace dále obsahuje sadu cvičných úloh a podporuje exporty do dalších formátů. Pro distribuci aplikace byly zhotoveny webové stránky.
- ItemRůst InGaN/GaN scintilačních heterostrukturHubáček, Tomáš; ; Hulicius Eduard, prof. Ing. CSc. Skolitel : 58413Zařízení na bázi nitridových polovodičů jsou součástí našeho každodenního života. Rozšířená a používaná jsou například v modrých světlo emitujících diodách. Tato práce zkoumá novou možnost využití nitridových polovodičů, kterou je scintilační detektor. Detektor je tvořen heterostrukturami na bázi InGaN/GaN mnohonásobných kvantových jam a vyžaduje velice účinnou a rychlou luminiscenční odezvu bez pomalých defektních pásů v luminiscenčních spektrech. Pro růst těchto struktur jsme použili organokovovou epitaxi z plynné fáze. Pomocí různých růstových parametrů jsme zlepšili luminiscenční vlastnosti GaN podkladových vrstev, kde jsme potlačili pomalou defektní žlutou luminiscenci. Zvýšením počtu kvantových jam bylo dosaženo tloušťky InGaN/GaN heterostruktury téměř 1 ?m. Takto tlustá struktura je nezbytná pro účinný scintilační detektor, avšak vzhledem k této tloušťce jsme narazili na mnoho problémů, jakými jsou například zvýšení napětí ve struktuře nebo příliš velké povrchové defekty (nazývané V-pity). Diskuze těchto problémů je také součástí práce. Disertační práce klade důraz na epitaxní růst scintilačních struktur. Na základě poznatků získaných v průběhu zkoumání nitridových scintilačních heterostruktur se zdá, že naše navrhovaná struktura je vhodná jako scintilační detektor a mohla by být v blízké budoucnosti použita v některých komerčních aplikacích.
- ItemAplikace pevnostních kritérií pro dlouhovlákenné kompozitní materiály na případu letecké vzpěryVomáčko, Václav; Šidlof Petr, doc. Ing. Ph.D. : 58116; Kolář Jan, Ing. Ph.D. Konzultant2 : 67386Cílem práce je ověřit funkčnost letecké vzpěry z uhlíkového laminátu. Tento cíl je naplňován v několika krocích. První část práce se věnuje teorii dlouhovlákenných kompozitních materiálů se zaměřením na jejich pevnostní kritéria. Jsou provedeny zkoušky tahem, tlakem a ohybem pro tři typy skladby laminátu. Je vytvořena simulace ohybové zkoušky, která je na základě naměřených dat validována a jsou porovnány indexy porušení pevnostních kritérií. V další části je popsána výroba modelu křídla, které je použito ve dvou typech reálných testů, jimž předchází konečněprvková simulace. Mechanismy porušení a odhady zatížení, při kterém dojde k porušení, byly v simulacích dobře predikovány a funkčnost vzpěry byla ověřena.
- ItemJedno- a dvoupixelová kamera pro výpočetní rekonstrukci obrazuDenk, Ondřej; Žídek Karel, RNDr. Ph.D.; Moučková Eva, Ing. Ph.D. Skolitel : 55077; Bakalová Totka, Ing. Ph.D.;Lederer Tomáš, Ing. Ph.D.;Rosická Petra, Mgr.;Rysová Miroslava, Ing. Konzultant : 63158;59161;64493;62788; Rudolf Jan, Bc. Konzultant2 : 64503Tato diplomová práce se zabývá aplikacemi teorie komprimovaného snímání, konkrétně metodou jednopixelové kamery. Komprimované snímání je již řadu let považováno za velmi elegantní teorii využívanou k záznamu informace a metoda jednopixelové kamery představuje přímou a velmi názornou aplikaci této teorie. Práce představuje základní pojmy komprimovaného snímání a uvádí ve stručnosti principy využití teorie pro vybrané aplikace. Na těchto principech je následně vybudováno hned několik přístupů k využití metody jednopixelové kamery. Nejprve jsou za pomoci umělých dat stanoveny podmínky, za kterých je rekonstrukční algoritmus schopen provádět věrnou rekonstrukci, a metoda je tedy spolehlivě použitelná. Následně je zkonstruováno několik návrhů měřicích aparatur, u každé z nich je diskutována její spolehlivost a jsou uvedeny příklady rekonstrukcí. V závěru hlavní sekce jsou pak zmíněny technické aspekty spojené s měřením jedno- a dvoupixelovou kamerou. Cílem práce je zkoumat možnost implementace jednopixelové kamery při zobrazování mimo rozsah běžných zobrazovacích detektorů (např. v infračervené oblasti) a také při konstrukci tzv. hyperspektrální kamery. Práce si také klade za cíl seznámit čtenáře se základními myšlenkami komprimovaného snímání a s metodikou využití jednopixelové kamery, proto jsou jednotlivé metody a postupy popisovány velmi podrobně.
- ItemDiagnostický systém tramvajových podvozkůRoško, Michal; Černohorský Josef, doc. Ing. Ph.D.; Skolitel : 64111 Ducháčková Eva, prof. Ing. CSc.; Konzultant : 55345 Němeček Pavel, prof. Dr. Ing.; Konzultant2 : 65182 Kotýnková EvaDiplomová práce se zabývá diagnostikou tramvajových podvozkůtramvají Tatra T3. Popisuje stávající systém fungující v Dopravnímpodniku měst Liberce a Jablonce nad Nisou, a.s. (DPMLJ).Především se zaměřuje na diagnostiku převodovek, za jejímž účelemje v dílně těžké údržby DPMLJ k dispozici měřicí stolice. Snažíse analyzovat výsledky tohoto měření a na základě toho rozhodnouto přítomnosti závad v převodovce. Navrhuje rovněž možná zlepšenítohoto měřicího procesu. V rámci této diplomové práce také vznikáaplikace, která z dat naměřených na této stolici generuje protokolyo měření. Dále je zde navržen systém diagnostiky vibrací za provozutramvaje, a systém sběru dat o jednotlivých dílech pro dílnudopravního podniku.
- ItemHloubkově rozlišené kvantitativní fázové zobrazování pomocí bezobjektivové interferometrické mikroskopieHejda, Matěj; Mokrý Pavel, prof. Ing. Ph.D. : 55790; Dümpelmann Luc, Ph.D. Konzultant2 : 66866Schopnost zkoumat slabě rozptylující vzorky je klíčová například pro odvětví zabývající se studiem buněk nebo optickou analýzou povrchů. Tyto tzv. fázové objekty však neprodukují dostatečný signál na to, aby mohly být zobrazovány pomocí klasické optické mikroskopie. Řešením tohoto problému je využití interferometrie. Bezobjektivový interferometrický mikroskop (LIM) je zařízením, které využívá dvojlomných krystalů a částečně koherentních, kolimovaných zdrojů světla ke zkoumání plošného rozložení indexu lomu ve vzorcích s vysokým axiálním rozlišením. Schopnost získat informace o třírozměrném rozložení fázových objektů v objemu vzorku by umožnila využití tohoto mikroskopu v nových vědeckých i průmyslových odvětvích, například biomedicínském zobrazování, datových úložištích na bázi skla nebo monitorování defektů v optických elementech. Tato diplomová práce se zabývá rozšířením funkčnosti bezobjektivového interferometrického mikroskopu do oblasti tomografického zobrazování. Toho je dosaženo realizací hloubkového rozlišování pro fázové objekty ve zkoumaných vzorcích. Pro umožnění měření byl sestaven prototyp mikroskopu a ověřen vliv různých parametrů optického uspořádání na kvalitu pořízeného obrazu. Současně byla navržena nová metoda k získání nakloněného, kolimovaného osvětlení. Kombinací několika úhlů osvitu a následného algoritmického zpracování získaných dat byly pořízeny kvantitativní fázové snímky se zorným polem 35 mm2, plošným rozlišením 10 um a axiálním rozlišením menším než 1 nm. Následně bylo navrženo několik metod umožňujících hloubkové rozlišování zobrazovaných objektů. Tyto postupy, využívající nakloněného osvitu a numerické propagace optického pole, byly implementovány a ověřeny měřením na vícevrstvých vzorcích. Nejlepší výsledky byly získány pomocí metody backpropagated pixel-by-pixel verification (beta-PbP). Tato nově navržená metoda byla úspěšně využita pro třírozměrnou rekonstrukci rozložení fázových objektů ve vzorcích objemu V = 0.5 cm3 s axiální přesností menší než 1 mm. Společně s ostatními navrženými metodami se jedná o první demonstraci využití LIM jako tomografické zobrazovací techniky.
- ItemNávrh stínicí stěny pro elektromagnetickou odolnostJerie, Aleš; Slavík Lubomír, Ing. Ph.D. : 55629Tato práce obsahuje problematiku testování elektromagnetické kompatibility. Konkrétně se jedná o testování elektromagnetické odolnosti proti vyzařovanému vysokofrekvenčnímu elektromagnetickému poli. Součástí práce je i teoretický rozbor šíření elektromagnetického záření a teorie bezodrazových komor včetně materiálů pohlcujících elektromagnetické záření. Jsou popsány dále použité konkrétní absorbéry. Pro splnění požadavků normy ČSN-EN-61000-4-3 bylo navrhnuto a vytvořeno měřicí pracoviště. Pro návrh a optimalizaci měřicího pracoviště posloužily simulace v programu Comsol Multiphysics. Tyto simulace byly následně porovnány s reálnými měřeními. Měření i simulace proběhly s bikonickou i logaritmicko periodickou anténou ve vertikální i horizontální polarizaci. Výsledné konfigurace se liší v umístění antény
- ItemMolybdenum disulfide and molecular thin films integration into devices for molecular electronics and spintronicsSvětlík, Josef; Řezanka Michal, RNDr. Ph.D. : 62971; Galbiati Marta, Ph.D. Konzultant2 : 66446Klasické zařízení, využívající Si, téměř dosahují svých fyzikálních limit a alternativy založené na zcela nových materiálech a principech jsou zkoumány a pomalu přecházejí z laboratoří do průmyslu. Příkladem těchto nových materiálů, které se zdají býti slibné pro jejich budoucí využití v polovodičovém průmyslu, jsou dvou-dimenzionální (2D) materiály a funkční molekuly díky jejich malým rozměrům, levnosti a nevšedním vlastnostem.Tato diplomová práce se zaměřuje na integrační techniky 2D materiálů a molekulárních tenkých vrstev do zařízení a na studium jejich vlastností. Nejdříve je využit sulfid molybdeničitý (MoS2) k přípravě tranzistoru a následně funkcionalizován spin-crossover (SCO) nanočásticemi (NPs). Vliv SCO NPs na elektronické vlastnosti MoS2 skrze spínání mezi dvěma odlišnými stavy s využitím vnějšího stimulu je zkoumán. Dále je vyvíjena integrační metoda 2D materiálů do magnetického tunelovacího spoje (MTJ) pro spintronické aplikace. Výhody a nevýhody zvolené metody jsou diskutovány. Nakonce je vyšetřována možnost integrace tenkých molekulárních vrstev do vertikálních zařízení přímo skrze jejich napařování s pomocí stínící masky.
- ItemNanostrukturované materiály pro uchovávání elektrické energieNejedlo, Luděk; Komárek Michal, Ing. Ph.D.; Skolitel : 55316 Simová Jozefína, doc. Ing. Ph.D.; Konzultant : 54744 Buchta Jaroslav, Ing.; Konzultant2 : 64631 Veselý MichalTato diplomová práce se zabývá možnostmi aplikace nanostrukturovaných materiálů v problematice uchovávání elektrické energie. Z širokého portfolia aplikačních směrů je práce zaměřena zejména na uplatnění nanovlákenných materiálů v elektrochemických článcích a superkapacitorech s elektrickou dvojvrstvou. Tyto dvě oblasti byly zvoleny z důvodu jejich konstrukční a materiálové podobnosti. V teoretické části byla uskutečněna recenze vědeckých článků a publikací zabývajících se přípravou a aplikací nanostruktur, zejména pak nanovlákenných vrstev a porézních uhlíkových nanovláken v lithium iontovém článku a superkapacitoru s elektrickou dvojvrstvou. V návaznosti na tuto rešeršní činnost byly v praktické části práce připraveny nanovlákenné materiály pro separátory a modifikovaná uhlíková nanovlákna jako potenciální materiály elektrod. Morfologie takto připravených materiálů byla studována metodou skenovací i transmisní elektronové mikroskopie a energiově disperzní rentgenové spektroskopie. Měrný povrch vzorků byl stanoven metodou dusíkové adsorpce. Pro studium termicko-chemických vlastností byly použity metody infračervené spektroskopie, diferenční skenovací kalorimetrie a termogravimetrická analýza. Dále byly testovány elektrochemické vlastnosti materiálů elektrod a separátorů metodami galvanostatického cyklování a cyklické voltametrie ve spolupráci s VUT v Brně.Vývoj nanovlákenných vrstev pro separátory vedl k výrazné optimalizaci a zkrácení procesu přípravy polyimidových nanovláken s chemickou odolností nutnou pro tuto aplikaci. Na připravených separátorech bylo provedeno 30 nabíjecích cyklů v modelovém článku a jejich vlastnosti byly porovnány s komerčními separátory. Jako materiály elektrod byly připraveny dva typy modifikovaných uhlíkových nanovláken. První z nich se vyznačuje relativně velkým aktivním povrchem 93 m2/g, druhý pak rovnoměrným rozptýlením křemíku v nanovlákenné vrstvě. Provedené experimenty nabízí několik potenciálních směrů výzkumu, které jsou definovány v závěru práce.
- ItemAdaptivní metody potlačování přenosu vibrací: řešení rezonančních a širokofrekvenčních úloh(Technická Univerzita v Liberci, ) Kodejška, Miloš
- ItemPokročilá kalibrace a charakterizace Shack-Hartmannova senzoruDušek, Martin; Lédl Vít, Ing. Ph.D. : 55721Práce se zabývá vývojem softwaru a kalibračního postupu pro Shack-Hartmannův senzor. Implementované algoritmy jsou porovnány pomocí simulací a také srovnány s rekonstrukcemi certifikovaného komerčního senzoru. V práci jsou ukázány výsledky použití softwaru v automatické justaci optického systému s několika komponenty a déle výsledky rekonstrukce vlnoplochy Strukturovaného svazku.
- ItemInterferometrické metody pro měření topografie povrchuMach, Marek; Psota Pavel, Ing. Ph.D.; Skolitel : 55317 Olehla Miroslav, prof. Ing. CSc.; Konzultant : 55356 Beran Jaroslav, prof. Ing. CSc.; Konzultant2 : 65246 Matarazzo Dominika, Mgr.Tato diplomová práce se zabývá interferometrickými metodami pro měření topografie povrchu. V teoretické časti je nastíněn princip charakterizace povrchů. Dále jsou popsány vybrané metody charakterizace povrchů se zaměřením na nekontaktní optické metody. Poté byla popsána povaha a vlastnosti záření.V experimentální části jsou popsány elementy měřícího uskupení, tedy součásti optické soustavy a měřící přístroje. Dále byl rozebrán princip shromáždění a analytického vyhodnocení dat. Na vhodných vzorcích bylo provedeno měření a ověřena metodika interferometrie s řízenou změnou fáze, dvouvlnové interferometrie a interferometrie skenování vlnovou délkou s nastíněným principem vyhodnocení absolutní interferometrií. Výsledky měření zmíněných metod jsou porovnány a diskutovány.V této práci byla potvrzena vhodnost využití nekontaktních metod pro analýzu topografie povrchů. Interferometrické metody mají široké pole možnosti využití a dosahují vysoké přesnosti.
- ItemDiagnostika a korekce optických vad svazku vysokovýkonného femtosekundového laseruŠvec, Filip; Šulc Miroslav, doc. RNDr. Ph.D.; Skolitel : 54965 Jáč Ivan, prof. Ing. CSc.; Konzultant : 57793 Šašková Jana, Ing. Ph.D.; Konzultant2 : 64753 Nejdl Jaroslav, Ing. Ph.D.Práce prezentuje tvorbu a implementaci systému využívajícího adaptivní optiky za účelem zvýšení špičkové intenzity záření laserového systému, jež je schopen generovat ultrakrátké laserové pulzy se špičkovým výkonem přesahujícím 20 TW s opakovací frekvencí 10 Hz. Cílem projektu bylo ověřit schopnost kompenzace optických vad s využitím systému adaptivní optiky. V práci jsou uvedeny dva přístupy, jež byly zvoleny pro dosažení tohoto cíle. V prvním případě docházelo na základě měření optických vad Shack-Hartmannovým senzorem vlnoplochy (SHWS) k řízení deformace piezoelektrického deformovatelného zrcadla (PDM) tak, aby došlo k vykompenzování optických vad. Druhý způsob využíval vytvořený Genetický Algoritmus (GA), který z měření profilu ohniska optimalizoval tvar PDM tak, aby byla minimalizována velikost ohniska, což má opět za důsledek snížení optických vad v systému.