Reliability Assessment and Advanced Measurements in Modern Nanoscale FPGAs
Title Alternative:Spolehlivost mikroelektronických obvodů a nanostruktur
Loading...
Date
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Technická Univerzita v Liberci
Abstract
Tato disertační práce se zabývá studiem možností stanovení spolehlivostních parametrů moderních obvodů a nanostruktur. V této práci je prezentován nový způsob měření různých parametrů mikroelektronických obvodů moderních nanotechnologií. Zcela nové řešení a metodologie využívá BRAM bloků v programovatelných obvodech FPGA, jako běžnou součást moderních řešení použitých i v systémech se zvýšenou provozní spolehlivostí. Prezentované řešení je novou metodologií. Umožňuje nový jednoduchý způsob implementace, odhadu a stanovení spolehlivostních ukazatelů, včetně měření parametrů moderní mikro- a nanoelektroniky, počítačových systémů a architektur těžících z ohromujícího světa programovatelných technologií.
This dissertation thesis (Thesis) deals with the study of possibilities to evaluate reliability of circuits based on modern nanostructures. It also presents a new way of measurement of various internal parameters of microelectronic circuits based on modern nanotechnologies. This thesis presents a new solution and methodology of utilization of BRAM in FPGA and utilization of this modern part in dependable systems, enabling a new easy way of implementation, reliability assessment methodology and measurements in modern nanoscale microelectronics, computer systems and architectures gaining from the amazing world of programmable technologies.
This dissertation thesis (Thesis) deals with the study of possibilities to evaluate reliability of circuits based on modern nanostructures. It also presents a new way of measurement of various internal parameters of microelectronic circuits based on modern nanotechnologies. This thesis presents a new solution and methodology of utilization of BRAM in FPGA and utilization of this modern part in dependable systems, enabling a new easy way of implementation, reliability assessment methodology and measurements in modern nanoscale microelectronics, computer systems and architectures gaining from the amazing world of programmable technologies.
Description
Subject(s)
Mikroelektronika, nanotechnologie, FPGA, BTI, BRAM, parametry a stárnutí obvodů, spolehlivé digitální systémy, Microelectronics, nanotechnology, FPGA, BTI, BRAM, internal parameters, aging, dependable digital systems