dc.contributor
dc.contributor.advisor
dc.contributor.author	Pfeifer, Petr
dc.contributor.other	Skolitel : 54739 Plíva Zdeněk, prof. Ing. Ph.D.
dc.contributor.other	Konzultant : 55140 Bajzík Vladimír, doc. Ing. Ph.D.
dc.contributor.other	Konzultant2 : 61142 Mlčoch Josef, Bc.
dc.date	2015
dc.date.accessioned	2018-05-04
dc.date.available	2018-05-04
dc.date.committed	2014-09-30
dc.date.defense	2015-02-19
dc.date.submitted	2010-10-01
dc.date.updated	24.6.2016 17:13
dc.degree.level	Ph.D.
dc.description.abstract	Tato disertační práce se zabývá studiem možností stanovení spolehlivostních parametrů moderních obvodů a nanostruktur. V této práci je prezentován nový způsob měření různých parametrů mikroelektronických obvodů moderních nanotechnologií. Zcela nové řešení a metodologie využívá BRAM bloků v programovatelných obvodech FPGA, jako běžnou součást moderních řešení použitých i v systémech se zvýšenou provozní spolehlivostí. Prezentované řešení je novou metodologií. Umožňuje nový jednoduchý způsob implementace, odhadu a stanovení spolehlivostních ukazatelů, včetně měření parametrů moderní mikro- a nanoelektroniky, počítačových systémů a architektur těžících z ohromujícího světa programovatelných technologií.	cs
dc.description.abstract	This dissertation thesis (Thesis) deals with the study of possibilities to evaluate reliability of circuits based on modern nanostructures. It also presents a new way of measurement of various internal parameters of microelectronic circuits based on modern nanotechnologies. This thesis presents a new solution and methodology of utilization of BRAM in FPGA and utilization of this modern part in dependable systems, enabling a new easy way of implementation, reliability assessment methodology and measurements in modern nanoscale microelectronics, computer systems and architectures gaining from the amazing world of programmable technologies.	en
dc.description.mark
dc.format	text
dc.format.extent	Ilustrace, Schémata, Grafy, Tabulky 1x
dc.identifier.signature	U 857 M
dc.identifier.uri	https://dspace.tul.cz/handle/15240/26090
dc.language.iso	an
dc.publisher	Technická Univerzita v Liberci	cs
dc.rights	Vysokoškolská závěrečná práce je autorské dílo chráněné dle zákona č. 121/2000 Sb., autorský zákon, ve znění pozdějších předpisů. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou https://knihovna.tul.cz/document/160	cs
dc.rights	A university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act. https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics https://knihovna.tul.cz/document/160	en
dc.rights.uri	https://knihovna.tul.cz/document/26
dc.rights.uri	https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf
dc.subject	Mikroelektronika	cs
dc.subject	nanotechnologie	cs
dc.subject	FPGA	cs
dc.subject	BTI	cs
dc.subject	BRAM	cs
dc.subject	parametry a stárnutí obvodů	cs
dc.subject	spolehlivé digitální systémy	cs
dc.subject	Microelectronics	en
dc.subject	nanotechnology	en
dc.subject	FPGA	en
dc.subject	BTI	en
dc.subject	BRAM	en
dc.subject	internal parameters	en
dc.subject	aging	en
dc.subject	dependable digital systems	en
dc.title	Reliability Assessment and Advanced Measurements in Modern Nanoscale FPGAs	cs
dc.title	Reliability Assessment and Advanced Measurements in Modern Nanoscale FPGAs	en
dc.title.alternative	Spolehlivost mikroelektronických obvodů a nanostruktur	cs
dc.type	Thesis
dc.type	disertační práce	cs
local.degree.discipline	TK4
local.degree.programme	Elektrotechnika a informatika
local.degree.programmeabbreviation	P2612
local.department.abbreviation	ITE
local.faculty	Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií	cs
local.faculty.abbreviation	FM
local.identifier.stag	30602
local.identifier.verbis	484055
local.note.administrators	TrykarovaA

Reliability Assessment and Advanced Measurements in Modern Nanoscale FPGAs

Title Alternative:Spolehlivost mikroelektronických obvodů a nanostruktur

Files

Original bundle

Collections