Vysokofrekvenční vlastnosti plošných vrstvených materiálů
Title Alternative:High-frequency properties of multilayer materials
Loading...
Date
2011
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Technická Univerzita v Liberci
Abstract
The aim of Bc thesis is complex permittivity measurement of multilayer materials using for printed circuit board manufacturing. Measuring of simples etalons with the help of capacity method by material analyzer Agilent E4991A RF in range from 100 MHz to 1 GHz is described in this work. The etalons are made from high-frequency laminate with contents PTFE for dielectric properties improving. The capacitive method is used for measuring of multilayer dielectrics also. Air effect among single layers and multilayer impact on the permittivity measuring is followed. Mother board combined with layers of non-soldering mask and copper of multilayer dielectric is made from FR4.
Cílem bakalářské práce je měření komplexní permitivity materiálů, které se pouţívají pro výrobu desek plošných spojů. V práci je popsáno měření komplexní permitivity jednoduchých vzorových etalonů pomocí kapacitní metody na materiálovém analyzátoru Agilent E4991A RF při kmitočtech od 100 MHz do 1 GHz. Vzorové etalony jsou z vysokofrekvenčního laminátu, který obsahuje PTFE pro zlepšení dielektrických vlastností. Kapacitní metoda je vyuţívána i u měření vrstvených dielektrik, u kterých zkoumám vliv vzduchu mezi jednotlivými vrstvami na měření permitivity. Dále je zde sledován i vliv jejich počtu. Jako základní materiál u vrstvených dielektrik je pouţit FR4, který je kombinován s vrstvami nepájivé masky a mědi.
Cílem bakalářské práce je měření komplexní permitivity materiálů, které se pouţívají pro výrobu desek plošných spojů. V práci je popsáno měření komplexní permitivity jednoduchých vzorových etalonů pomocí kapacitní metody na materiálovém analyzátoru Agilent E4991A RF při kmitočtech od 100 MHz do 1 GHz. Vzorové etalony jsou z vysokofrekvenčního laminátu, který obsahuje PTFE pro zlepšení dielektrických vlastností. Kapacitní metoda je vyuţívána i u měření vrstvených dielektrik, u kterých zkoumám vliv vzduchu mezi jednotlivými vrstvami na měření permitivity. Dále je zde sledován i vliv jejich počtu. Jako základní materiál u vrstvených dielektrik je pouţit FR4, který je kombinován s vrstvami nepájivé masky a mědi.
Description
katedra: MTI; přílohy: 1 CD ROM; rozsah: 58 s. (49 906)
Subject(s)
printed circuit board, complex permittivity, rf measurement, desky plošných spojů, komplexní permitivita, vysokofrekvenční měření