dc.contributor.advisor	Richter, Aleš
dc.contributor.author	Kněbort, Petr
dc.date	2011
dc.date.accessioned	2015-06-30
dc.date.available	2015-06-30
dc.date.committed	2011-05-20
dc.date.defense	2011-06-21
dc.date.issued	2011
dc.date.submitted	2010-10-15
dc.degree.level	bc	cs
dc.description	katedra: MTI; přílohy: 1 CD ROM; rozsah: 58 s. (49 906)	cs
dc.description.abstract	The aim of Bc thesis is complex permittivity measurement of multilayer materials using for printed circuit board manufacturing. Measuring of simples etalons with the help of capacity method by material analyzer Agilent E4991A RF in range from 100 MHz to 1 GHz is described in this work. The etalons are made from high-frequency laminate with contents PTFE for dielectric properties improving. The capacitive method is used for measuring of multilayer dielectrics also. Air effect among single layers and multilayer impact on the permittivity measuring is followed. Mother board combined with layers of non-soldering mask and copper of multilayer dielectric is made from FR4.	en
dc.description.abstract	Cílem bakalářské práce je měření komplexní permitivity materiálů, které se pouţívají pro výrobu desek plošných spojů. V práci je popsáno měření komplexní permitivity jednoduchých vzorových etalonů pomocí kapacitní metody na materiálovém analyzátoru Agilent E4991A RF při kmitočtech od 100 MHz do 1 GHz. Vzorové etalony jsou z vysokofrekvenčního laminátu, který obsahuje PTFE pro zlepšení dielektrických vlastností. Kapacitní metoda je vyuţívána i u měření vrstvených dielektrik, u kterých zkoumám vliv vzduchu mezi jednotlivými vrstvami na měření permitivity. Dále je zde sledován i vliv jejich počtu. Jako základní materiál u vrstvených dielektrik je pouţit FR4, který je kombinován s vrstvami nepájivé masky a mědi.	cs
dc.format	text
dc.identifier.uri	https://dspace.tul.cz/handle/15240/10880
dc.language.iso	cs
dc.publisher	Technická Univerzita v Liberci	cs
dc.subject	printed circuit board	en
dc.subject	complex permittivity	en
dc.subject	rf measurement	en
dc.subject	desky plošných spojů	cs
dc.subject	komplexní permitivita	cs
dc.subject	vysokofrekvenční měření	cs
dc.subject.verbis	measurement	en
dc.title	Vysokofrekvenční vlastnosti plošných vrstvených materiálů	cs
dc.title.alternative	High-frequency properties of multilayer materials	en
dc.type	Thesis
local.department	MTI	cs
local.faculty	Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií	cs
local.identifier.stag	20452
local.identifier.verbis	452609
local.note.administrators	oprava_A
local.verbis.aktualizace	2019-10-05 05:58:39	cs
local.verbis.studijniprogram	MTI Elektrotechnika a informatika/Elektronické informační a řídicí systémy	cs

Vysokofrekvenční vlastnosti plošných vrstvených materiálů

Title Alternative:High-frequency properties of multilayer materials

Files

Original bundle

Collections