Studium piezoelektrických tenkých vrstev

Title Alternative:Study of piezoelectric thin films
Simple item page
dc.contributor.advisorŠulc, Miroslav
dc.contributor.authorRadoberský, Tomáš
dc.date2009
dc.date.accessioned2013-12-30
dc.date.available2013-12-30
dc.date.committed2009-05-29
dc.date.defense2009-06-25
dc.date.issued2009
dc.date.submitted2008-10-31
dc.degree.levelmgrcs
dc.descriptionkatedra: MTI; přílohy: 1 CD ROM; rozsah: 59 s., 10 s. obr. přílohcs
dc.description.abstractPiezoelektrické tenké vrstvy jsou měřeny dvoupaprskovým laserovým interferometrem. Vrstvy jsou naneseny vysokofrekvenčním naprašováním. Naměřené frekvenční a předpěťové závislosti piezoelektrického a elektrostrikčního koeficientu jsou konzultovány.cs
dc.formattext
dc.identifier.urihttps://dspace.tul.cz/handle/15240/5843
dc.language.isocs
dc.publisherTechnická Univerzita v Libercics
dc.subjectpiezoelectric thin filmsen
dc.subjectdouble beam interferometeren
dc.subjectpiezoelectric effecten
dc.subjectelectrostriction effecten
dc.subjectpiezoelektrické tenké vrstvycs
dc.subjectdvoupaprskový laserový interferometrcs
dc.subjectpiezoelektrický jevcs
dc.subjectelektrostrikční jevcs
dc.subject.verbismechatronikacs
dc.titleStudium piezoelektrických tenkých vrstevcs
dc.title.alternativeStudy of piezoelectric thin filmsen
dc.typeThesis
local.departmentMTIcs
local.facultyFakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studiícs
local.identifier.stag16847
local.identifier.verbiskpw06397245
local.note.administratorsoprava_A
local.verbis.aktualizace2019-10-05 07:28:50cs
local.verbis.studijniprogramMTI Elektrotechnika a informatika/Mechatronikacs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
mgr_16847.pdf
Size:
10.23 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
kvalifikační práce
Download
Collections
Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií
Cena Jiřího Zelenky