Detekce a hodnocení poškození tenkých vrstev z rozptylu laserového záření

Simple item page
dc.contributor.advisorVáclavík Jan, Ing. Ph.D. :54938cs
dc.contributor.authorElsner, Petrcs
dc.contributor.refereeGalář Pavel, RNDr. Ph.D. :67157cs
dc.date.accessioned2025-02-19T10:07:25Z
dc.date.available2025-02-19T10:07:25Z
dc.date.committed9.5.2025cs
dc.date.defense28.1.2025cs
dc.date.issued2025-01-28
dc.date.submitted12.10.2023cs
dc.description.abstractDiplomová práce se zabývá vytvořením měřicího systému, který bude schopen detekovat poškození a anomálie na optických tenkých vrstvách. Systém je založen na principu detekce rozptylu světla z abnormalit povrchu tenkých vrstev pomocí laserové diody a fotodiody. Měřicí soustava je ovládaná mikrokontrolerem Arduino, které sbírá a přeposílá naměřená data do počítače skrze sériový port pro jejich zpracování ve skriptu v jazyce MATLAB. Součástí práce je i vytvořená dokumentace a aplikace pro vizualizaci aktuálně přijímaných dat a ovládání soustavy mimo příkazový řádek. Měřicí systém byl po sestavení podroben testům měření vzorků nepoškozených, poškozených LIDT experimentem a poškozených environmentálními testy. Pro potvrzení výsledků, byly poškozené tenké vrstvy alternativně charakterizovány pomocí přístrojů WLI a AFM. Práce také obsahuje popis výroby mechanické závěrky pro ovládání laserového svazku.cs
dc.description.abstractThis diploma thesis deals with creation of measurement system capable of detecting damage and anomalies on optical thin layers. System operates on principle of light scattering detection from surface abnormalities by a laser diode and a photodiode. Measurement system is controlled by an Arduino microcontroller, which collects and transmits measured data to PC via serial port to be processed by a script in MATLAB programming language. Part of this thesis is created documentation and application for visualization of real-time incoming data and to control system outside of command line interface. Measurement system was after construction tested on undamaged samples, samples damaged by LIDT experiment and samples damaged by environmental tests. For result confirmation were damaged thin films alternatively characterised by WLI and AFM devices. Thesis also includes description of manufacturing mechanical shutter for laser beam control.en
dc.format74 s. (69 184 znaků)cs
dc.identifier.urihttps://dspace.tul.cz/handle/15240/176631
dc.language.isoCScs
dc.subjectLIDTcs
dc.subjecttenké vrstvycs
dc.subjectdetekce rozptylu laserového paprskucs
dc.subjectoptikacs
dc.subjectArduinocs
dc.subjectMATLABcs
dc.titleDetekce a hodnocení poškození tenkých vrstev z rozptylu laserového zářenícs
dc.titleDetection and assessment of thin film damage from laser radiation scatteringen
dc.typediplomová prácecs
local.degree.abbreviationNavazujícícs
local.identifier.authorM22000012cs
local.identifier.stag46284cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 5 of 5
Thumbnail Image
Name:
DP_Elsner_priloha.zip
Size:
1.65 MB
Format:
Unknown data format
Description:
VŠKP - příloha ( 1.1.2025 20:12 )
Download
Thumbnail Image
Name:
DP-Detekce-a-hodnocení-poškození-tenkých-vrstev-z-rozptylu-laserového-záření.pdf
Size:
4.65 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
VŠKP ( 1.1.2025 20:35 )
Download
Thumbnail Image
Name:
Hodnocení_Bc. Elsner_Ing.pdf
Size:
1.21 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek oponenta VŠKP ( 16.1.2025 9:53 )
Download
Thumbnail Image
Name:
hodnoceni-vedouciho-dp_Elsner.pdf
Size:
441.73 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek vedoucího VŠKP ( 16.1.2025 14:19 )
Download
Thumbnail Image
Name:
ProtokolSPrubehemObhajobySTAG.pdf
Size:
39.3 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Průběh obhajoby VŠKP ( 28.1.2025 11:02 )
Download
Collections
Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií