Tester logických TTL obvodů
Title Alternative:TTL circuit tester
Loading...
Date
2007
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Technická Univerzita v Liberci
Abstract
Cílem bakalářské práce je navrhnout a realizovat zařízení, testující vybrané sekvenční a kombinační číslicové integrované obvody řady TTL. Práce se skládá z výběru vhodného mikroprocesoru, návrhu zapojení, vytvoření programu obsluhující mikroprocesor a jeho periferií včetně algoritmů pro rozpoznání vadných obvodů. Součástí je i realizace zařízení. Po testeru je vyžadována jednoduchá intuitivní obsluha a odolnost proti poškození nesprávným použitím. Je vyřešena možnost pozdějšího vylepšení nebo rozšíření schopností přeprogramováním mikroprocesoru přímo v zařízení z běžného PC prostřednictvím aplikace Flip.
The aim of the thesis is to design and realize device testing selected subsequent and combinational TTL chips. It is neccessary to choose proper microcontroller, make a draft, devepol program controlling the microcontroller and its peripherals, including deficient chips algorithm. One part of the project is realization of device. Using the tester should be simple, intuitive and misapplication proof. It is possible to improve the program using upgrade function direct in the device via common PC running Flip application.
The aim of the thesis is to design and realize device testing selected subsequent and combinational TTL chips. It is neccessary to choose proper microcontroller, make a draft, devepol program controlling the microcontroller and its peripherals, including deficient chips algorithm. One part of the project is realization of device. Using the tester should be simple, intuitive and misapplication proof. It is possible to improve the program using upgrade function direct in the device via common PC running Flip application.
Description
katedra: KES; přílohy: 1 CD ROM; rozsah: 34 s., 1 s příloh.
Subject(s)
tester, logické obvody, ttl, tester, logic circuit, ttl