Identification of mid-spatial frequency error on the optotech MCG 100 when grinding optical elements

DSpace Repository

Show simple item record

dc.contributor.author Beneš, Jiří
dc.contributor.author Špína, Michal
dc.contributor.author Procháska, František
dc.date.accessioned 2018-06-26
dc.date.accessioned 2018-06-26
dc.date.available 2018-06-30
dc.date.available 2018-06-26
dc.date.issued 2018
dc.identifier.issn 1803-9782
dc.identifier.other ACC_2018_1_01
dc.identifier.uri https://dspace.tul.cz/handle/15240/26399
dc.description.abstract Střední prostorové frekvence, povrchové vady vznikající při výrobě optických asférických ploch, mohou být velkým problémem např. ve vysoce výkonných optických systémech. Při výrobě asférických ploch na stroji Optotech MCG100 bylo proto provedeno měření vibrací v různých režimech chodu měřicím zařízením VibXpert II. Toto zařízení pomocí piezoelektrických snímačů zaznamenává zrychlení vibrací. Data z měření byla následně zpracována v softwaru Matlab. Cílem bylo identifikovat frekvence, které mohou nepříznivě ovlivňovat výrobu optických elementů a dále nastínit možné příčiny jejich vzniku. Bylo zjištěno, že ve sledovaném spektru 33 – 800 Hz se vyskytují výrazné frekvence z několika základních zdrojů. Jedná se o rotaci nástrojového vřetena, o rotaci nástroje, regulační smyčku pohybu os a samotný pohyb os. cs
dc.description.abstract Die mittlere räumliche Frequenz und Oberflächenschäden, welche bei der Produktion optischer asphärischer Flächen entstehen, können ein großes Problem z. B. bei hoch leistungsfähigen optischen Systemen darstellen. Bei der Produktion asphärischer Flächen auf der Maschine Optotech MCG100 wurde daher eine Messung der Vibrationen in verschiedenen Arbeitsabläufen mit Hilfe der Messeinrichtung VibXpert II durchgeführt. Diese Einrichtung zeichnet mit Hilfe piezoelektrischer Sensoren die Beschleunigung der Vibrationen auf. Die Messdaten wurden im Anschluss mit der Software Matlab verarbeitet. Ziel war die Identifizierung der Frequenzen, welche die Produktion optischer Elemente ungünstig beeinflussen und Hinweise auf weitere mögliche Ursachen von deren Entstehung geben können. Es wurde festgestellt, dass im beobachteten Spektrum 33 – 800 Hz deutliche Frequenzen aus mehreren Quellen auftreten. Es handelt sich um die Rotation der Instrumentenspindel, um die Rotation der Regulationsschleife der Achsenbewegung und die eigentliche Achsenbewegung. de
dc.description.abstract The mid-spatial frequency errors, surface defects arising from the production of optical aspherical surfaces may be a major problem, for example in high-performance systems. At the production of aspherical surfaces on the Optotech MCG100, vibration measurements were performed in various operating modes. The measurement was done with VibXpert II. This device uses piezoelectric sensors to record vibration acceleration. The measurement data were then processed in Matlab software. The aim was to identify frequencies, which may have a negative influence on optical element manufacturing, and also to outline possible causes of their origin. In the observed spectrum (30-800 Hz), significant frequencies from several basic sources were found. This is the tool spindle rotation, tool rotation, the axes control loop, and the movement of the axes themselves. en
dc.description.abstract Średnie częstotliwości przestrzenne, wady powierzchniowe powstające w procesie produkcji optycznych powierzchni asferycznych mogą stanowić duży problem w bardzo wydajnych systemach optycznych. Podczas produkcji powierzchni asferycznych na maszynie Optotech MCG100 wykonano więc pomiaru wibracji dla różnych trybów pracy urządzenia. Pomiary wykonano urządzeniem VibXpert II. Przy pomocy czujników piezoelektrycznych urządzenie to odnotowuje przyspieszenie wibracji. Następnie dane z pomiaru opracowano w oprogramowaniu Matlab. Celem było zidentyfikowanie częstotliwości, które mogą mieć niekorzystny wpływ na produkcję elementów optycznych oraz wskazanie możliwych przyczyn ich powstania. Stwierdzono, że w analizowanym spektrum 33—880 Hz występują wyraźne częstotliwości pochodzące z kilku źródeł podstawowych. To rotacja wrzeciona urządzenia, rotacja urządzenia, pętla regulacyjna ruchu oraz własny ruch osi. pl
dc.format text
dc.format.extent 7-16 s.
dc.language.iso en
dc.publisher Technická univerzita v Liberci, Česká republika cs
dc.relation.ispartof ACC Journal en
dc.relation.isbasedon JANÍČKOVÁ, P.: Moderní konstrukční řešení. [Online] 2010. [accessed 2018-12-04] Available from WWW: http://www.uh.cz/szesgsm/files/sblizovani/pdf/mod-konstr-cnc.pdf
dc.relation.isbasedon MELOUN, M.; MILITKÝ, J.: Statistická analýza experimentálních dat. Praha: Academia, 2004. ISBN 80-200-1254-0.
dc.relation.isbasedon SUCHNA K.: Jednoduché vyvažování nástrojů. MM Průmyslové spektrum. [Online] [accessed 2018-12-04] Available from WWW: https://www.mmspektrum.com/clanek/jednoduche-vyvazovani-nastroju.html
dc.relation.isbasedon SHAFRIR, S. N.: Diamond Tool Wear - Observation by Scanning Electron Microscopy (SEM). [Online] [accessed 2018-12-04] Available from WWW: http://www.optics.rochester.edu/workgroups/cml/opt307/spr04/shai/index.html
dc.relation.isbasedon HELEBRANT, F.; ZIEGLER J.: Technická diagnostika a spolehlivost. Ostrava: VŠB - Technická univerzita, 2004. ISBN 9788024806501
dc.subject vibration en
dc.subject middle en
dc.subject frequency en
dc.subject optical en
dc.subject aspheric en
dc.subject surface en
dc.title Identification of mid-spatial frequency error on the optotech MCG 100 when grinding optical elements en
dc.title.alternative Identifikace středních prostorových frekvencí při obráběcím procesu na optotech MCG 100 cs
dc.title.alternative Identifizierung mittlerer räumlicher Frequenzen beim Fräsprozess mit dem Optotech MCG 100 de
dc.title.alternative Identyfikacja średnich częstotliwości przestrzennych w procesie obróbki na urządzeniu Optotech MCG 100 pl
dc.type Article en
dc.relation.isrefereed true
dc.identifier.doi 10.15240/tul/004/2018-1-001
dc.identifier.eissn 1803-9790
local.relation.volume 24
local.relation.issue 1
local.citation.spage 7
local.citation.epage 16
local.access open
local.fulltext yes en
dc.license CC BY-NC 4.1


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace

Advanced Search

Browse

My Account