Nelineární blokové kódy pro testování číslicových obvodů

Abstract
Téma nelineárních blokových kódů a jejich využití pro testování logických obvodů přináší možnosti inovace v této oblasti. Testování logických obvodů je v současnosti realizováno s využitím lineárních blokových kódů. Nelineární blokové kódy nabízejí novou perspektivu z hlediska testování například v možném přínosu vyšší efektivity. Vytváření těchto kódů a uzpůsobení k testování vychází z počtu specifikovaných bitů testovaného obvodu. Pro každý rozdílný počet existují návrhy deterministických přístupů pro realizaci takových kódů. V současné době je možné tyto přístupy teoreticky ověřit navázáním na dostupné výsledky a přiblížit celé téma k možnosti realizace.
The topic of nonlinear block codes and their use for testing logic circuits brings opportunities for innovation in this area. Logic circuit testing is currently implemented using linear block codes. Non-linear block codes offer a new perspective in terms of testing, for example, in the potential benefit of increased efficiency. The creation of these codes and the adaptation to testing is based on the number of specified bits of the circuit under test. For each different count, there are proposals for deterministic approaches to implement such codes. Currently, it is possible to verify these approaches theoretically by relating them to available results and bringing the whole topic closer to the possibility of implementation.
Description
Subject(s)
Nelineární blokový kód, Lineární blokový kód, Testování logických obvodů, Dekompresor, Hardwarová realizace, Syntéza logického obvodu
Citation
ISSN
ISBN