dc.contributor	Václavík Jan, Ing.
dc.contributor.advisor	Kunc Štěpán, Ing.
dc.contributor.author	Souček, Josef
dc.contributor.other	Skolitel : 64111 Ducháčková Eva, prof. Ing. CSc.
dc.contributor.other	Konzultant : 54736 Kolář Milan, doc. Ing. CSc.
dc.contributor.other	Konzultant2 : 65107 Kačírková Květa, Ing.
dc.date	2016
dc.date.accessioned	2018-05-03
dc.date.available	2018-05-03
dc.date.committed	2016-05-16
dc.date.defense	2016-06-14
dc.date.issued	2016-06-14
dc.date.submitted	2015-10-20
dc.date.updated	24.6.2016 17:14
dc.degree.level	Ing.
dc.description.abstract	Tenkovrstvé materiály jsou novým druhem materiálů s velkým potenciálem pro využití v průmyslu i ve vědě. Díky svým malým rozměrům téměř nemění vlastnosti objektu, (např. hmotnost) ale mění se zásadně povrchové vlastnosti (např. tvrdost či biokompatibita). Pro tyto vlastnosti jsou tenkovrstvé materiály velmi hojně využívány. Tato práce se zabývá optickými vlastnostmi tenkovrstvých materiálů, jako je transmise reflexe a absorpce v závislosti na vlnové délce a komplexního indexu lomu. Jako použitý materiál byl zvolen amorfní hydrogenovaný křemík na skle a nanodiamant. V první části práce byla nasnímána spektra transmise, reflexe a absorpce pomocí metody reflexní interferometrie a fototermální deflexní spektroskopie. Druhá část práce pojednává o vytvořeném programu pro modelování spekter a optických vrstev použitých materiálů. Program byl vytvořen v programovém prostředí MatLab s využitím objektově orientovaného programování. Tento program je plně funkční, stabilní a umožňuje matematické modelování spekter, jejich porovnání s naměřenými daty a zobrazování komplexního indexu lomu.	cs
dc.description.abstract	Thin films materials are the new kind of materials with high potencional use in industry and science. Thanks to their small dimentions they almost does not change properities of object (weight ) but it fundamentally changes properities of surface (hardness or biocompatibility). Thanks to these properties are thin layer materials abundantly used. Topic of this thesis is optical properities of thin layers, like transmission, reflexion and absorption according to wavelength and complex refractive index. As a material was chosen a amorphous hydrogenated silicon on a glass and nanodiamond. In the first part of thesis were indicated spectra of transmission, reflexion and absorption by method of reflexe interferometry and photothermal deflection spectroscopy. Second part of thesis deals with created program for modeling of spectra and optical layers of used materials. Program was created in MatLab with usage of object oriented programming. This program is fully functional, stable and alows mathematical modeling of spectrums and their comparation to measured data and display of complex refractive index.	en
dc.description.mark
dc.format	56
dc.format.extent	Ilustrace disk se zdrojovými kódy a elektronickou verzí ROM 1
dc.identifier.uri	https://dspace.tul.cz/handle/15240/24397
dc.language.iso	cs
dc.relation.isbasedon	[1] MATLAB, http://www.mathworks.com/products/matlab/
dc.relation.isbasedon	[2] B. R. Hunt, R. L. Lipsman, J. M. Rosenberg , A Guide to Matlab for beginners and experienced users, ed. 2, , Cambridge, 2006, ISBN-13 978-0-521-61565-5
dc.relation.isbasedon	[3] Harland G. Tompkins, William A. McGahan, Spectroscopic ellipsometry and reflectometry: A user's guide, ed. 1, John Wiley & Sons, Inc., 1999, ISBN 0471181722
dc.relation.isbasedon	[4] Zdenek Remes, Ravi Vasudevan, Karol Jarolimek, Arno H.M. Smets, Miro Zeman , The Optical Spectra of a-Si:H and a-SiC:H Thin Films Measured by the Absolute Photothermal Deflection Spectroscopy (PDS), Solid State Phenomena, 213, 2014, 19-28 s., DOI: 10.4028/www.scientific.net/SSP.213.19
dc.relation.isbasedon	[5] Max Born, Emil Wolf, Principles of optics: electromagnetic theory of propagation, interference and diffraction of light, ed. 6, Cambridge University Press, 1997, ISBN 0521639212
dc.relation.isbasedon	[6] O. S. Heavens, Optical properties of thin solid films, Dover Publications, Inc., New York, 1991, ISBN 0-486-66924-6
dc.relation.isbasedon	[7] Lorentz-Tauc dispersion formula, Technical Note, HORIBA
dc.relation.isbasedon	[8] R. A. Street, Hydrogenated amorphous silicon, cambridge, New York, 1991, ISBN 0 521 37156 2
dc.rights	Vysokoškolská závěrečná práce je autorské dílo chráněné dle zákona č. 121/2000 Sb., autorský zákon, ve znění pozdějších předpisů. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou https://knihovna.tul.cz/document/26	cs
dc.rights	A university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act. https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics https://knihovna.tul.cz/document/26	en
dc.rights.uri	https://knihovna.tul.cz/document/26
dc.rights.uri	https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf
dc.subject	Nanodiamant	cs
dc.subject	amorfní hydrogenovaný křemík	cs
dc.subject	matematické modelování spekter	cs
dc.subject	fototermální deflexní spektroskopie	cs
dc.subject	reflexní interferometrie	cs
dc.subject	Nanodiamond	en
dc.subject	amorphous hydrogenated silicon	en
dc.subject	math spectra modeling	en
dc.subject	fotothermal deflection spectroscopy	en
dc.subject	reflexe interferometry	en
dc.subject.verbis	optical properties of materials	en
dc.subject.verbis	tenké vrstvy	cs
dc.subject.verbis	optické vlastnosti materiálů	cs
dc.subject.verbis	thin films	en
dc.title	Měření a modelování optických spekter nanokompozitních tenkovrstvých materiálů	cs
dc.title	Measurement and modeling of optical spectra of thin-film nanocomposite materials	en
dc.title.alternative		cs
dc.type	diplomová práce	cs
local.degree.discipline	NA-N
local.degree.programme	Nanotechnologie
local.degree.programmeabbreviation	N3942
local.department.abbreviation	NTI
local.faculty	Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií	cs
local.faculty.abbreviation	FM
local.identifier.stag	33751
local.identifier.verbis	520930
local.note.administrators	automat
local.verbis.aktualizace	2019-10-05 05:56:17	cs
local.verbis.studijniprogram	NTI Nanotechnologie/Nanomateriály	cs

Měření a modelování optických spekter nanokompozitních tenkovrstvých materiálů

Files

Original bundle

Collections