Měření komplexní permitivity materiálů pomocí vrstvených dielektrik
Title Alternative:Measurement of the complex permitvity materials via mutilayers dieletrics
Loading...
Date
2011
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Technická Univerzita v Liberci
Abstract
Cílem diplomové práce je návrh metody, pomocí které lze určit komplexní permitivitu neznámého dielektrika při vysokých frekvencích vloženého mezi vrstvy dvou stejných materiálů se známou dielektrickou konstantou. V práci jsou popsány dva způsoby jak stanovit komplexní permitivitu prostřední neznámé vrstvy, jednak na základě výpočtu koeficientů odrazu a prostupu, a také pomocí prvků náhradního odvodu kondenzátoru se sériově děleným dielektrikem. Metoda výpočtu komplexní permitivity z náhradního obvodu kondenzátoru byla ověřena měřením na materiálovém analyzátoru Agilent E4991A RF při kmitočtu 400MHz.
The aim of this diploma thesis is to propose a method, which can be used to define complex permitivity of unknown dielectric at high frequencies inserted between the layers of two same materials with the known dielectric constant. There are two ways of defining the complex permitivity of the middle unknown layer described in this thesis. The first is based on the calculation of reflection and transmission coefficients, the second by capacitor equivalent circuit elements series divided dielectric. The method of calculating the complex permitivity is verified through the Agilent E4991A RF at frequency 400MHz.
The aim of this diploma thesis is to propose a method, which can be used to define complex permitivity of unknown dielectric at high frequencies inserted between the layers of two same materials with the known dielectric constant. There are two ways of defining the complex permitivity of the middle unknown layer described in this thesis. The first is based on the calculation of reflection and transmission coefficients, the second by capacitor equivalent circuit elements series divided dielectric. The method of calculating the complex permitivity is verified through the Agilent E4991A RF at frequency 400MHz.
Description
katedra: MTI; rozsah: 70 s. (61 000 znaků)
Subject(s)
vícevrstvá dielektrika, komplexní permitivita, vysokofrekvenční měření, multilayers dielectric, complex permitivity, rf measurement