Měřicí metoda pro ověřovaní závěrných vlastností výkonových polovodičových prvků

dc.contributorMoučka Michal, Ing. Ph.D. : 55320
dc.contributor.advisorČerník Martin, Ing. Ph.D. : 55678
dc.contributor.authorNejedlý, Tomáš
dc.date.accessioned2020-09-22T18:03:55Z
dc.date.available2020-09-22T18:03:55Z
dc.date.committed2020-5-18
dc.date.defense2020-07-01
dc.date.issued2020-07-01
dc.date.submitted2019-10-10
dc.date.updated2020-7-1
dc.degree.levelBc.
dc.description.abstractV této bakalářské práci se zabývám vývojem aplikace, která bude zobrazovat voltampérové charakteristiky polovodičových prvků. Využívám pro to programovací prostředí MATLAB s jeho funkcí App Designer, ve které se dá snadno tato aplikace vytvořit. Rozebírám důležité faktory a podmínky pro měření, aby odpovídali určitým standardům, které zajistí co nejpřesnější výsledky. Popisuji různé metody měření, které mohou být k proměřování polovodičových prvků také využity a porovnávám jejich výhody a nevýhody. Dále vysvětluji různé druhy těchto prvků, které jsou využívané ve výkonové elektrotechnice. Na jakých principech pracují nebo i jejich vlastnosti, kterými se od sebe liší, zejména u různých typů polovodičových diod. K řešení využívám impulsní metodu měření, která se pro tuto práci, svými výhodami, nejvíce hodí. Díky ní se podařilo dosáhnout uspokojivých výsledků, které pro kontrolu porovnávám s charakteristikami naměřenými pomocí přesnějšího osciloskopu. K závěru práce stručně popisuji, jak samotná aplikace funguje a moji myšlenku se kterou jsem ji tvořil, aby byla co nejvíce srozumitelná. Poté následuje návod na použití a vysvětlení všech částí aplikace, aby uživatel přesně věděl, jak své polovodičové prvky měřit a vyhodnotit.cs
dc.description.abstractIn this bachelor thesis I deal with the development of an application that will display the volt-ampere characteristics of semiconductor devices. For this I use the MATLAB programming environment with its App Designer function, in which this application can be easily created. I analyze important factors and conditions for measurement to meet certain standards that will ensure the most accurate results. I describe various measurement methods that can also be used to measure semiconductor elements and compare their advantages and disadvantages. I also explain the different types of these elements that are used in power electrical engineering. What principles do they work on or even their properties, which differ from each other, especially for different types of semiconductor diodes. To solve it, I use the impulse measurement method, which is the most suitable for this work with its advantages. Thanks to it, it was possible to obtain satisfactory results, which for comparison is compared with the characteristics measured by means of a more accurate oscilloscope. At the end of the thesis I briefly describe how the application itself works and my idea, which I created it with, to be as understandable as possible. This is followed by instructions for use and an explanation of all parts of the application so that the user knows exactly how to measure and evaluate their semiconductor elements.en
dc.description.mark
dc.format53 s.
dc.format.extent1 .
dc.identifier.signatureV 202002079
dc.identifier.urihttps://dspace.tul.cz/handle/15240/157719
dc.language.isocs
dc.relation.isbasedonrenewcommandlabelenumi[theenumi] beginenumerate itemHAŠKOVEC, Jiří, František LSTIBŮREK a Josef ZÍKA. Tyristory. 2. vyd. Praha: SNTL, 1972. itemIEEE Standard Test Specification for Thyristor Diode Surge Protective Devices, IEEE Standards Board 1996. endenumerate
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je autorské dílo chráněné dle zákona č. 121/2000 Sb., autorský zákon, ve znění pozdějších předpisů. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou https://knihovna.tul.cz/document/26cs
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act. https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics https://knihovna.tul.cz/document/26en
dc.rights.urihttps://knihovna.tul.cz/document/26
dc.rights.urihttps://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf
dc.subjectMATLABcs
dc.subjectměřenícs
dc.subjectApp Designercs
dc.subjectpolovodičecs
dc.subjectvýkonová elektronikacs
dc.subjectMATLABen
dc.subjectmeasurementen
dc.subjectApp Designeren
dc.subjectsemiconductorsen
dc.subjectpower electronicsen
dc.titleMěřicí metoda pro ověřovaní závěrných vlastností výkonových polovodičových prvkůcs
dc.titleA Test Method for Blocking Capability of Power Semiconductor Devicesen
dc.typebakalářská prácecs
local.degree.abbreviationBakalářský
local.degree.disciplineEIRS
local.degree.programmeElektrotechnika a informatika
local.degree.programmeabbreviationB2612
local.department.abbreviationMTI
local.facultyFakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studiícs
local.faculty.abbreviationFM
local.identifier.authorM17000049
local.identifier.stag40057
local.identifier.verbis
local.identifier.verbiskpw06667633
local.note.administratorsautomat
local.note.secrecyPovoleno ZverejnitPraci Povoleno ZverejnitPosudky
local.poradovecislo2079
Files
Original bundle
Now showing 1 - 5 of 5
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Bakalarska_praceTomas_Nejedly.pdf
Size:
1.13 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
VSKP
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Priloha_Nejedly.zip
Size:
2.66 MB
Format:
Unknown data format
Description:
VSKP__priloha
Loading...
Thumbnail Image
Name:
ProtokolSPrubehemObhajobySTAG.pdf
Size:
14.93 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Prubeh_obhajoby_VSKP
Loading...
Thumbnail Image
Name:
BP_PV_Nejedly.pdf
Size:
617.83 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek_vedouciho_VSKP
Loading...
Thumbnail Image
Name:
BP_PO_Nejedly.pdf
Size:
605.92 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek_oponenta_VSKP