dc.contributor.author	Pfeifer, Petr
dc.date	2014
dc.date.accessioned	2019-01-20T17:54:36Z
dc.date.available	2019-01-20T17:54:36Z
dc.degree.level	Ph.D.
dc.format	text
dc.identifier.signature	U 857 M
dc.identifier.uri	https://dspace.tul.cz/handle/15240/142811
dc.publisher	Technická Univerzita v Liberci	cs
dc.rights	Vysokoškolská závěrečná práce je autorské dílo chráněné dle zákona č. 121/2000 Sb., autorský zákon, ve znění pozdějších předpisů. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou https://knihovna.tul.cz/document/93	cs
dc.rights	A university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act. https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics https://knihovna.tul.cz/document/93	en
dc.rights.uri	https://knihovna.tul.cz/document/26
dc.rights.uri	https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf
dc.subject.verbis	nanotechnologie	cs
dc.title	Reliability assessment and advanced measurements in modern nanoscale FPGAS	cs
dc.title.alternative	Spolehlivost mikroelektronických obvodů a nanostruktur	en
dc.type	Thesis
dc.type	disertační práce	cs
local.faculty	Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií	cs
local.faculty.abbreviation	DIS
local.identifier.verbis	kpw06484055
local.note.administrators	TrykarovaA
local.verbis.aktualizace	2019-10-05 07:26:40	cs
local.verbis.studijniprogram	ITE Electrical engineering and informatics/Technical cybernetics	cs

Reliability assessment and advanced measurements in modern nanoscale FPGAS

Title Alternative:Spolehlivost mikroelektronických obvodů a nanostruktur

Files

Original bundle

Collections