Reliability assessment and advanced measurements in modern nanoscale FPGAS

Title Alternative:Spolehlivost mikroelektronických obvodů a nanostruktur
Thumbnail Image
Files
obhajoba.pdf(739.03 KB)
posudek_oponenta.pdf(3.71 MB)
posudek_vedouciho.pdf(187.76 KB)
U_857_M.pdf(7.8 MB)
Date
2014-01-01
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Technická Univerzita v Liberci
Abstract
Description
Subject(s)
Citation
Item identifier
https://dspace.tul.cz/handle/15240/142811
ISSN
ISBN
Collections
Rok 2015