Nelineární charakteristiky tenkých piezoelektrických vrstev

Title Alternative:Nonlinear characteristics of piezoelectric thin films
dc.contributor.authorRadoberský, Tomáš
dc.date2007
dc.date.accessioned2018-12-02T08:46:30Z
dc.date.available2018-12-02T08:46:30Z
dc.description.abstractBakalářské práce se zaobírá studiem a měřením nelineárních charakteristik piezoelektrických tenkých vrstev ZnO s kontinuální strukturou na křemíkovém substrátu. Při různých budicích napěťových signálech vznikají deformace vyvolané inverzním piezoelektrickým jevem, které jsou v desítkách pikometrů. Vlivem těchto deformací vznikají vibrace substrátu, jejichž amplituda je řádově větší, než amplituda piezoelektrického posunutí tenké vrstvy ZnO. Proto byl použit dvoupaprskový laserový interferometr (DBLI), který vliv vibrací substrátu eliminuje a měří pouze piezoelektrické posunutí. Jsou zde uvedeny modifikace DBLI pro měření vzorků s malou plochou horní elektrody. V práci jsou popsány závislosti deformace tenkých vrstev na budicím elektrickém napětí. Tyto charakteristiky mají tvar hysterézních smyček. Dále jsou měřeny frekvenční charakteristiky relativního posunutí při různých hodnotách předpětí aplikovaného na vzorky.cs
dc.description.abstractThis Bachelor thesis deals with research and measurement of nonlinear characteristics of continual ZnO piezoelectric thin films deposited on a silicon substrate. Deformations of thin film induced by inverse piezoelectric effect, which is in order of picometers, are observed when different waveform of electric voltage is applied. Substrate vibrations are produced as a side effect by ZnO thin films piezoelectric deformations and have a higher-order amplitude. Therefore double-beam laser interferometer (DBLI) was used to eliminate influence of substrate vibrations on piezoelectric deformation measurement. Modifications of DBLI are presented with respect to measurement of samples with small top electrode size.Thin film deformation dependencies on applied electric field are described in this work. These characteristics have a hysteretic loop shape. Frequency dependences of relative displacement were observed when different DC bias field were applied to the samples.en
dc.identifier.signatureV 91/07 Mb
dc.identifier.urihttps://dspace.tul.cz/handle/15240/47506
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je autorské dílo chráněné dle zákona č. 121/2000 Sb., autorský zákon, ve znění pozdějších předpisů. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou https://knihovna.tul.cz/document/26cs
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act. https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics https://knihovna.tul.cz/document/26en
dc.rights.urihttps://knihovna.tul.cz/document/26
dc.rights.urihttps://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf
dc.subject.verbispiezoelectric phenomenaen
dc.subject.verbislasery interferometryen
dc.subject.verbispiezoelektrikacs
dc.subject.verbispiezoelektrický jevcs
dc.subject.verbispiezoelektřinacs
dc.subject.verbisvrstevnaté materiálycs
dc.subject.verbisinterferometriecs
dc.subject.verbislaserycs
dc.subject.verbispiezoelectricityen
dc.titleNelineární charakteristiky tenkých piezoelektrických vrstevcs
dc.title.alternativeNonlinear characteristics of piezoelectric thin filmsen
dc.typebakalářské prácecs
local.facultycs
local.faculty.abbreviationBAK
local.identifier.verbiskpw06327672
local.note.administratorsStare VSKP
local.verbis.aktualizace2019-10-05 06:38:17cs
local.verbis.studijniprogramKFYcs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
V_09107_Mb.pdf
Size:
6.39 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
VSKP
Loading...
Thumbnail Image
Name:
posudek_oponenta_vedoucí_Radobersky.pdf
Size:
512.33 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek_oponenta_VSKP