Browse
Recent Submissions
- ItemAdvances in multi-wavelength coherent techniques(2025) Psota, PavelTato habilitační práce poskytuje komplexní přehled o výzkumu, který jsem prováděl v Laboratoři optických měřicích metod (LOM) na TUL a ve výzkumném centru TOPTEC. Zaměřuje se na pokrok v oblasti koherentních technik, konkrétně interferometrie a digitální holografie s využitím více vlnových délek. Vyvinuté techniky využívající více vlnových délek úspěšně řeší jeden ze základních problémů koherentních technik tzv. fázovou nejednoznačnost, která je v mnoha aplikacích limitující. Jednou z vyvinutých technik řešící problém fázové nejednoznačnosti je absolutní interferometrie (AWA). Ta využívá tři laserové zdroje a pokročilé algoritmy zpracování dat pro vysoce přesné absolutní měření rozdílů optických drah mezi rameny interferometru. Metoda AWA byla úspěšně použita v optickém průmyslu k měření různých parametrů optických prvků. Techniky založené na interferometrii, jako je například AWA, jsou účinné pro měření hladkých povrchů. Měření hrubých povrchů vede k tvorbě koherenčního šumu, který limituje použitelnost interferometrických technik. Proto byla dále vyvinuta holografická metoda FSDH (Frequency Sweeping Digital Holography), která využívá více vlnových délek a optimalizované optické uspořádání pro minimalizaci vlivu koherentního šumu. Pro měření dynamických jevů s vysokými gradienty byla vyvinuta robustní interferometrie s využitím dvou vlnových délek (RTWI). RTWI umožňuje měření s rozšířeným rozsahem jednoznačnosti fáze při zachování přesnosti jedné vlnové délky. Tato metoda využívá vysokorychlostní kameru s krátkou expoziční dobou. RTWI zaznamenává dvě vlnové délky v jediném interferogramu a zahrnuje robustní metodu zpracování dat pro demodulaci fázové mapy. RTWI byla úspěšně použita ke zkoumání transsonického proudění v planárních lopatkových mřížích s rázovými vlnami v náročném prostředí aerodynamické laboratoře. Tato skupina koherentních metod využívajících více vlnových délek představuje komplexní soubor technik s rozšířeným rozsahem fázové jednoznačnosti až do absolutního měření. Tyto techniky jsou použitelné v širokém spektru aplikací, zahrnujících povrchy s odraznými i difúzními vlastnostmi, pro statická i dynamická měření.