Studium vlivu iontového svazku na krystalizaci tenké vrstvy PZT

dc.contributor.authorVápenka, David
dc.contributor.otherMTIcs
dc.date.accessioned2019-07-08T06:40:24Z
dc.date.available2019-07-08T06:40:24Z
dc.date.issued2019-07-08
dc.description.abstractPředkládaná disertační práce se zabývá studiem vlivu rozbíhavého iontového svazku na krystalickou strukturu nanášené tenké vrstvy zirkoničitanu-titaničitanu olovnatého (angl. Lead Zirconate titanate -- PZT). Iontový svazek je v našem případě produkován běžně komerčně používaným iontovým zdrojem Kaufmannova typu, určeným k čištění a modifikaci vlastností substrátu a rostoucí tenké vrstvy. V práci je postupně popsáno teoretické pozadí problematiky depozice a charakterizace tenkých vrstev PZT. Dále jsou shrnuty výsledky výzkumu prováděného s konvenčním keramickým naprašovacím terčem. Z těch vyplynula nevhodnost tohoto postupu pro účely experimentování s vlivem iontového svazku na rostoucí vrstvu. Ukázalo se, že je nutností mít možnost cíleně ovlivňovat složení vrstvy, což keramický terč neumožňuje. Následně je v práci navrženo originální řešení tohoto problému pomocí segmentového kovového terče. Proveditelnost tohoto řešení je nejprve analyzována simulacemi a následně demonstrována i praktickými experimenty. Na závěr práce se podařilo experimentálně prokázat, že iontový svazek, dopadající na rostoucí PZT vrstvu může zapříčinit snížení teploty nutné k její následné krystalizaci. V našem případě se tímto způsobem podařilo dosáhnout perovskitové struktury již při 500 °C.cs
dc.description.abstractThis dissertation deals with the study of the effect of the divergent ion beam on the crystal structure of the PZT thin film. In our case, the ion beam is produced by a commercially available Kaufmann-type ion source designed for cleaning and modifying the properties of the substrate surface and the growing thin film. The thesis describes the theoretical background of deposition and characterization of the PZT thin films. Then, there are summarized the results of a research conducted with a conventional ceramic sputter target. It turned out that this approach is in our case inappropriate for studying the effect of the ion beam on the growing thin film. It was necessary to develop an approach, which allow us to precisely control the stechiometry of the deposited PZT thin film. An original solution of this problem is presented in this Thesis by proposing the sputtering from the segmented metal target. The feasibility of this approach has been at first analyzed by simulations and then demonstrated by sputtering experiments. Finally, it was experimentally demonstrated that using the dual ion beam sputtering deposition it is possible to deposit PZT thin films, whose crystallization to perovskite structure was achieved at 500 °C.en
dc.formattextcs
dc.format.extent114 strancs
dc.identifier.urihttps://dspace.tul.cz/handle/15240/152814
dc.language.isocscs
dc.publisher.abbreviationTULcs
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je autorské dílo chráněné dle zákona č. 121/2000 Sb., autorský zákon, ve znění pozdějších předpisů. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou https://knihovna.tul.cz/document/151cs
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act. https://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics https://knihovna.tul.cz/document/151en
dc.rights.urihttps://knihovna.tul.cz/document/26
dc.rights.urihttps://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf
dc.subjectPZTcs
dc.subjectiontové dělocs
dc.subjectDIBS systémcs
dc.subjectPZTen
dc.subjection gunen
dc.subjectDIBS systemen
dc.titleStudium vlivu iontového svazku na krystalizaci tenké vrstvy PZTcs
dc.titleStudy of the ion beam induced crystallization of the PZT thin filmen
dc.typeThesiscs
local.identifier.verbiskpw06582353
local.note.secrecyutajeno
local.verbis.aktualizace2019-11-07 09:06:15cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 5 of 5
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Thesis_2019_Vapenka.pdf
Size:
10.74 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
disertační práce
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Hodnoceni_skolitele.pdf
Size:
30.38 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek_vedouciho_VSKP
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Zapis_o_ohajobe_DisP.pdf
Size:
630.37 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Prubeh_obhajoby_VSKP
Loading...
Thumbnail Image
Name:
posudky_oponentu.pdf
Size:
722.17 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek_oponenta_VSKP
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Zdůvodnění utajení.docx
Size:
40.29 KB
Format:
Microsoft Word XML
Description:
Zduvodneni_utajeni
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description:
Collections