Browsing by Author "Mach, Marek"
Now showing 1 - 3 of 3
Results Per Page
Sort Options
- ItemInterferometrické metody pro měření topografie povrchuMach, Marek; Psota Pavel, Ing. Ph.D.; Skolitel : 55317 Olehla Miroslav, prof. Ing. CSc.; Konzultant : 55356 Beran Jaroslav, prof. Ing. CSc.; Konzultant2 : 65246 Matarazzo Dominika, Mgr.Tato diplomová práce se zabývá interferometrickými metodami pro měření topografie povrchu. V teoretické časti je nastíněn princip charakterizace povrchů. Dále jsou popsány vybrané metody charakterizace povrchů se zaměřením na nekontaktní optické metody. Poté byla popsána povaha a vlastnosti záření.V experimentální části jsou popsány elementy měřícího uskupení, tedy součásti optické soustavy a měřící přístroje. Dále byl rozebrán princip shromáždění a analytického vyhodnocení dat. Na vhodných vzorcích bylo provedeno měření a ověřena metodika interferometrie s řízenou změnou fáze, dvouvlnové interferometrie a interferometrie skenování vlnovou délkou s nastíněným principem vyhodnocení absolutní interferometrií. Výsledky měření zmíněných metod jsou porovnány a diskutovány.V této práci byla potvrzena vhodnost využití nekontaktních metod pro analýzu topografie povrchů. Interferometrické metody mají široké pole možnosti využití a dosahují vysoké přesnosti.
- ItemPlazmové modifikace nástrojů pro zpracování kompozitůMach, Marek; Louda Petr, prof. Ing. CSc.; Skolitel : 54781 Antlová Klára, doc. Ing. Ph.D.; Konzultant : 63158;61852 Bakalová Totka, Ing. Ph.D.;Voleský Lukáš, Ing.; Konzultant2 : 64461 Mayer JaromírTato bakalářská práce se zabývá plazmatickými modifikacemi nástrojů pro zpracování kompozitů. Rozebírá problematiku tvorby tenkých vrstev a jejich charakterizace. V teoretické části je nastíněna problematika kompozitních materiálů. Byly popsány nástrojové materiály, dále různé metody přípravy tenkých vrstev, poté byly formulovány teoretické podklady pro vybrané metody charakterizace vrstev využitých v části experimentální. Experimentální část popisuje metody přípravy vzorků, postup depozice DLC vrstev pomocí technologie RF PACVD/MS a výsledky z vybraných metod charakterizace vrstev. Byla provedena komparace tří metod stanovujících tloušťku vrstev (mechanický profilometr, EM řezu vzorku, kalotest). Dále bylo stanoveno chemické složení vzorků metodou EDX. Vyhodnoceno bylo adhezní chování metodou Scratch test. Byla určena tvrdost a tribologické vlastnosti vrstev.V této práci byla potvrzena vhodnost využití tenkých vrstev pro modifikaci povrchů nástrojových materiálů a tím zlepšení jejich vlastností. V této práci bylo dosaženo např. velmi dobrého koeficientu tření.
- ItemVývoj metod měření prostorového rozložení indexu lomu pomocí on-chip tomografieMach, Marek; Mokrý Pavel, prof. Ing. Ph.D. :55790V disertační práci byl představen výzkum v oblasti metod měření prostorového rozlišení indexu lomu transparentních materiálů. V práci byl popsán vývoj a optimalizace metody digitální holografické tomografie v Mach-Zehnderově uspořádání s mikroskopovými objektivy (MZDHT). Dále byl popsán vývoj kompaktního lensless digitálního holografického interferometru ve Fizeauově uspořádnání (FDHI). Hlavním výstupem práce je poté metoda on-chip tomografie využívající principů digitální holografické interferometrie v Mach-Zenderově uspořádání (MZDHT-on-chip), která synergicky kombinuje přístupy digitální holografické interferometrie, on-chip mikroskopie a výpočetní tomografie. Metody MZDHT a MZDHT-on-chip byly ověřeny měřením vzorku feroelektrického monokrystalu periodicky polovaného niobičnanu lithného (PPLN) ve 3D. Metodou MZDHT byla dále měřen vzorek niobičnanu lithného s implantovanými doménami tvaru šestibokého hranolu ve 2D. Metoda FDHI byla ověřena měřením PPLN ve 2D. Cílem vývoje nových metod měření je zlepšení dosažitelných parametrů měření: laterální rozlišení, zorné pole, resp. měřený objem, doba měření, speciální podmínky pro měřený objekt, aj. Ve vzorku PPLN byla měřením prostorového rozložení změny indexu lomu vizualizována doménová struktura. Pro možnost realizace měřicího uspořádání MZDHT-on-chip byl vyvinut klíčový element optického uspořádání - optický vlnovod, sloužící jako referenční rameno Mach-Zehnderova interferometru. Tím bylo dosaženo minimalizace vzdálenosti měřeného vzorku od senzoru kamery, který umožnil dosažení porovnatelného laterálního rozlišení s komerčním a s ověřeným systémem MZDHT. Nezanedbatelnou výhodou měřicího uspořádání je jeho kompaktnost. Samotné měřicí uspořádání je konstruováno pouze z několika komponent: zdroj koherentního světla, dva kolimátory svazku, optický vlnovod, kamera a vzorek umístěný na rotačním unašeči. Uspořádání MZDHT-on-chip by tedy tedy mohlo sloužit jako vzor pro vývoj kompaktních, přenosných měřicích přístrojů s nízkou cenou.