Radoberský, Tomáš
(Technická Univerzita v Liberci, 2009)
Piezoelektrické tenké vrstvy jsou měřeny dvoupaprskovým laserovým interferometrem. Vrstvy jsou naneseny vysokofrekvenčním naprašováním. Naměřené frekvenční a předpěťové závislosti piezoelektrického a elektrostrikčního ...