Diplomová práce se zabývá tvorbou simulace optických vlastností detekční jednotky zpětně odražených elektronů pro elektronovou mikroskopii v komerčním softwaru. V práci je brán zřetel na nastavení jednotlivých parametrů simulace a jejich vliv na celkové výsledky. V práci jsou též diskutovány možnosti, jak docílit co nejpřesnějších výsledků. Krátce jsou zmíněny i možnosti využití simulace k optimalizaci detekční jednotky.
The diploma thesis deals with the creation of a simulation of the optical properties of a detection unit of backscattered electrons for electron microscopy in commercial software. The work takes into account the setting of individual simulation parameters and their impact on the overall results. The work also discusses the possibilities of achieving the most accurate results. The possibilities of using the simulation to optimize the detection unit are also briefly mentioned.
